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掃手持式(shi)三(san)維激(ji)光掃描儀(yi)描結果實(shi)時(shi)(shi)顯示(shi)實(shi)時(shi)(shi)拼接，可快(kuai)速得到如深(shen)孔、死角(jiao)等難(nan)以獲取的三(san)維數據，在掃描造型(xing)復雜物體的優(you)勢尤為明(ming)顯。
逆向工(gong)程 三(san)維(wei)(wei)激(ji)光(guang)掃(sao)描(miao)儀可快速獲(huo)取(qu)(qu)被測(ce)(ce)物體三(san)維(wei)(wei)數據，并得出該產(chan)品的外形、組(zu)織結構及(ji)技(ji)術規格(ge)等設計(ji)(ji)要素，大(da)大(da)簡(jian)化產(chan)品設計(ji)(ji)技(ji)術再現過程。 檢測(ce)(ce)比(bi)對(dui)(dui) 在工(gong)業制造生產(chan)領域(yu)需要對(dui)(dui)關(guan)鍵部(bu)位進行質量檢測(ce)(ce)比(bi)對(dui)(dui)，運用(yong)三(san)維(wei)(wei)掃(sao)描(miao)儀可快速獲(huo)取(qu)(qu)被測(ce)(ce)物件高精度三(san)維(wei)(wei)數據，并與原(yuan)始(shi)數模文件比(bi)對(dui)(dui)分(fen)析獲(huo)取(qu)(qu)誤差值。
ELS-205手持式三維激光掃(sao)描(miao)儀產品特點 掃(sao)描(miao)快 掃(sao)描(miao)速度(du)(du)快，可以持續(xu)以每秒幾十萬次以上測量(liang)速率獲得三維數據。 精(jing)度(du)(du)高 工業(ye)級高精(jing)度(du)(du)水準，Z高可達0.03mm的(de)(de)測量(liang)精(jing)準。 自(zi)定位 無需(xu)(xu)配備外部跟蹤定位設備，用戶可在掃(sao)描(miao)器件按(an)自(zi)己(ji)需(xu)(xu)要的(de)(de)方式移動(dong)物件（動(dong)態(tai)參考(kao)），且周圍(wei)環境的(de)(de)變化(hua)絲(si)毫不會影響數據采集質(zhi)量(liang)和精(jing)度(du)(du)。 便攜(xie)
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