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三豐525系列表面粗糙度和輪廓測量系統特點：配有寬范圍且高分辨力的Z軸檢出器。測量范圍：Z1軸（檢出器）：5mm（分辨力：0.0008μm，測量范圍為0.05mm時適用）X軸：100mm（分辨力：0.5μm）檢出器的延伸量：Z大70mm（可固定在所需的位置）。適用FORMTRACEPAK軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現優良的表面紋理評估。
更新時間：2017-03-02
三豐525系列表面粗糙度和輪廓測量系統
三豐525系列表面粗糙度和輪廓測量系統特點：
X軸：100mm（分辨力：0.5μm）
三豐525系列表面粗糙度和輪廓測量系統技術參數
貨號 |
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| CS-3200S4 | ||
測量范圍/ 分辨力 | X軸 | 100mm/0.05μm | |||
Z1軸（檢出器） | 5mm/0.08μm 0.5mm/0.008μm 0.05mm/0.0008μm | ||||
Z2軸（立柱） | 1μm | ||||
精度（20℃） | X軸 | ±（0.8+0.01L）μm（L=測量長度（mm）） | |||
Z1軸（檢出器） | ±（1.5+(2H)/100）μm（H=水平位置上的測量高度（mm）） | ||||
驅動部 | 直線度（X軸） | 正常使用下 | 0.2μm/100mm | ||
當伸出到zui大程度 | 0.4μm/100mm | ||||
測量速度 | 表面粗糙度測量 | 0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(4-step) | |||
輪廓測量 | 0.02,0.05,0.1,0.2，0.5,1.0,2.0mm/s(7級) | ||||
驅動速度 | X軸（水平方向） | 0 to 80mm/s 外加手動 | |||
Z2軸（垂直方向） | 0 to 20mm/s 外加手動 | ||||
上/下移動 | 300mm（電動） | ||||
傾角范圍 | ±45° | ||||
檢出器 | 檢出方式 | 差動感應 | |||
測力 | 0.75mN | ||||
測針名稱 | 標準測針（用于粗糙度/輪廓測量） | 針尖角度：60°圓錐，針尖半徑：2μm，金剛石針尖 | |||
圓錐形（用于輪廓測量） | 針尖角度：30°圓錐，針尖半徑：25μm，藍寶石針尖 | ||||
測針上/下運作 | 適用（可在半空停頓） | ||||
注：雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩定性是值得信賴的。
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